機械密封干涉條紋數量的確定方法是通過光干涉法，使用光學平晶和單色光源(如鈉光燈)進行檢測‌。具體步驟如下：

　　1.將光學平晶放置在密封端面上，斜上方用鈉光燈照射。檢查干涉條紋的數量，通過干涉條紋的數量即可確定密封端面的平面度‌

　　2.干涉條紋的數量與平面度有關：

　　平直的條紋表明密封端面的平面度接近光學平晶，平面度最高。

　　彎曲的條紋數量較少時，平面度較好;數量較多時，平面度較差‌

　　3.不同平面度的密封端面會呈現不同類型的干涉條紋：

　　平直的條紋表示平面度最高。

　　彎曲的條紋數量較少時，平面度較好。

　　同心圓狀的干涉條紋表示端面內外緣高低差別較大，平面度較差
 

　　密封端面的平面度不同，條紋的種類也不同。圖16表示了幾種平面度合格的圖像，至于不合格的圖像各式各樣未予繪出。

　　圖16a是平直的條紋，表明密封端面的平面度接近光學平晶的平面度，因此這種平面度最高;圖16b是彎曲的條紋，干涉條紋數在一條以內，即小于0.3μm;圖16c也是彎曲的條紋，干涉條紋數為兩條，平面度在0.6μm以內;圖16d是同心圓狀的干涉條紋，如果是從平板研磨后取下來檢驗平面度，這說明端面的內緣高，外緣較低，同心圓數量越多，其內外緣高低差別越大。對壓力不高的密封不能超過3個同心圓(按平面度0.0009mm控制)，否則密封端面泄漏量過大。在壓力較高的平衡型密封中，可能將密封端面推開，因此，如出現同心圓狀的條紋，不要超過2個。

　　平面度檢驗時務必經拋光后才能進行，否則，表面光潔度不夠，條紋照射不出來，尤其對石墨環更是這樣。此外，平晶和密封環端面要擦干凈，不得有水分和灰塵，平晶要精心保管，避免將面擦傷。為了保證檢驗的精度，還應對平晶定期校驗。